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  • 電化學原子力顯微鏡EC-AFM-掃描的產(chan) 品概述 多功能原子力顯微鏡平台，滿足納米級測量的需求原子力顯微鏡（AFM)有納米級分辨率成像以及電，磁，熱和機器性能測量的能力。 納米管掃描係統可用於(yu) 高分辨率掃描離子電導顯微鏡（SICM). 倒置光學顯微鏡（IOM）便於(yu) 透明材料研究和熒光顯微鏡一體(ti) 化。

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    產品價格：麵議
    廠商性質：生產廠家
    更新日期：2025-02-18
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