掃描離子電導顯微鏡 SICM

掃描離子電導顯微鏡 SICM屬於(yu) 掃描探針顯微鏡，它是一種具有納米級分辨率的顯微技術。區別於(yu) 其他掃描探針顯微技術， SICM能夠在樣品表麵非接觸的條件下獲取樣品表麵形貌特性信息，並且SICM對樣品本身沒有要求,也不需做任何預處理。

掃描離子電導顯微鏡 SICM（Scanning Ion Conductance Microscopy， SICM）
1、探針是一根中空的超微玻璃管，針尖為(wei) 錐形，針尖內(nei) 徑約幾十到幾百納米；
2、在探針內(nei) 外均灌有電解質溶液，並各放置一根電極,在電極的兩(liang) 端通上電壓就會(hui) 在溶液中產(chan) 生離子電流；
3、當針尖與(yu) 樣品距離較遠時，電流值的大小保持恒定，而當探針與(yu) 樣品的距離減小到約為(wei) 探針內(nei) 徑時，狹小的針尖/樣品空間就會(hui) 限製離子通過，離子電流急速減小；
4、根據探針/樣品間距離與(yu) 離子電流的關(guan) 係，一個(ge) 設定的電流值就代表了探針與(yu) 樣品間一個(ge) 固定的距離，讓探針在樣品表麵以一定的路線移動掃描，控製器控製電流保持恒定以保證針尖與(yu) 樣品始終保持同樣的距離，掃描完成後記錄下探針移動的軌跡即可代表樣品的表麵形貌。